8       測定条件の決定

粗く測定し、X線ダメージを見積った上での条件決定をお勧めします。

 （お試しの結晶の利用をお勧めします）

1.    90試分のデータを粗く測定します。（測定方法は後述9. 単波長で測定を行うを参照してください）

              標準例）　λ準例）　λださ、準例）　λださ～ 90 　、 90 　λださい定し、Exposure = 0.5 sec、shutterless測定、

                                          アッテネータ Al 1000mm～1500mm（スナップショットの値を参考に設定）

2.　HKL2000で解析（Scaling）してダメージを見積もり、アッテネータを決定します。

              例）　90　分のデータをHKL2000で解析し、Scalingによってrelative B factorを出す。

              Brel = 4 になるまで照射できるとして、これを超えないように、測定に必要なωを同じ角速度で（角度あたりの照射時間が同じになるように）測定するためのアッテネータを計算。

※目的の結晶のダメージとアッテネータの様子がわかったら、毎回する必要はありません。