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測定 ⇒ 手動でマウントする測定マニュアル <印刷用pdf> <検出器距離・分解能計算ページ

制御ソフト起動
マウント
センタリング
・Diffraction Scan
評価
・Annealing
・Imgview
①単波長測定
・Advanced Centering mode
・Inverse Beam
②多波長測定
(XAFS測定含む)
測定の中断と再開
トラブルシューティング
データ処理
測定の終了
Advanced Centering mode (Beam Position Changer)
Advanced centering mode →



針状結晶などでX線のダメージを考慮し、例えば5フレーム毎に照射位置を変更したり、1回の連続測定に対して2箇所以上の照射位置を指定したい場合に有効な方法です。 また、ループ内に複数の結晶が有る場合に、順番にビームを照射する事も出来ます。

Advanced centering modeでは、測定フレーム数を基に照射点数(No of irradiated positions)や照射点間の距離(Step)を自動算出する項目があるため、 事前に測定スケジュール入力して下さい。測定条件とAdvanced modeの設定条件の間に不都合がある場合は、【Apply】ボタンを押した時にその旨エラーが表示されます。 エラー内容を確認して条件を変更して下さい。

  1. Edit Scheduleウィンドウの「Advanced」タブを選択します。
  2. 「Advanced」タブのAdvanced centering modeを次の3つから選択します。
None
Advance modeを使わない場合

Vector centering
連続した複数の照射点を設定する場合
点と終点の2点を指定することで、2点間を結ぶベクトル上に照射位置を設定することができます

Multiple centering
数点の照射位置を設定する場合
照射位置や照射の順番を自由に指定出来ます



Vector centering

<照射位置の始点と終点の指定>
※センタリングは、通常のCrystal Image Captureの画面を使用して目視で行ないますが、細長い結晶や目視のセンタリングが難しい場合は、Diffraction Scanで精密に行なうことができます。
  1. このEdit Scheduleウィンドウは開いたままにしておきます。
  2. Centering tabにある【Diffraction Scan】をクリックします。
  3. Diffraction Scanを実行し、回折イメージからセンタリングを行います。
  4. センタリングが完了したら、Edit Scheduleウィンドウで【Add】をクリックします。これで始点は完了です。
  5. 次に、終点のセンタリングを行ないます。まずは、Crystal Image Capture画面にて、目視でおおよそのセンタリングを行ないます。
  6. 始点の時と同様にDiffraction Scanを実行し、終点のセンタリングが完了したら、Edit Scheduleウィンドウで【Add】をクリックします。
  7. これでセンタリング操作は終了です。



<Type of vector centeringの指定とパラメータの設定 :Set stepの場合>

  1. Set stepにチェックを入れる。
  2. No of irradiated positions(照射点数)を指定。     
  3. 【Apply】をクリック。


<Type of vector centeringの指定とパラメータの設定 : Auto Stepの場合>

  1. Auto stepにチェックを入れる。
  2. No of irradiated positions(照射点数)を指定。     
  3. Step(照射点間の距離)を入力。
  4. 【Apply】をクリック。
    Step(照射点間の距離)は、ベクトルの大きさ(始点と終点の長さ)とフレーム数から計算されます。


<Type of vector centeringの指定とパラメータの設定 : Gradual moveの場合>



  1. Auto stepにチェックを入れる。
  2. 【Apply】をクリック。
    No of irradiated positions(照射点数)、Step(照射点間の距離)とも指定する必要はありません。
    ベクトルの大きさ(始点と終点の長さ)とフレーム数から、No of irradiated positions(照射点数)とStep(照射点間の距離)は計算されます。


<照射確認>

Check centering positionの【move】をクリックし、設定したcentering positionを確認して下さい。Target positionの値を変更すれば、その値に相当するpositionの確認が出来ます。


<指定した照射点をスキップする方法>

スキップしたいpositionの値をSkip following points in vector centeringに設定します。


<スケジュール確認と測定開始>

【Show List】をクリックするとスケジュールが表示されます。黄色で表示されているフレームは、照射位置の変更点を表しています。黄色で表示されるフレームを確認して下さい。

以上で設定は終了です。
BSS上で【Start】をクリックし、測定を開始して下さい。




Multiple centering

<照射位置の指定>
  1. センタリングは、通常のCrystal Image Captureの画面を使用して目視で行ないますが、細長い結晶や目視のセンタリングが難しい場合は、Diffraction Scanで精密に行なうことができます。操作方法はVector Centeringを参照してください(始点と終点のセンタリングを行なうのと同様に、各結晶の位置でDiffraction Scanを実行します)。

  2. 【Apply】をクリックします。
    Addする毎に照射No.が付与され、測定時にはその順番に従って照射点が変更されていきます。照射No.を変更する場合はCentering point editor内で希望の条件を選択しておいて【Up】または【Down】をクリックして下さい。


<照射確認>

Check centering positionの【move】をクリックし、設定したcentering positionを確認して下さい。Target positionの値を変更すれば、その値に相当するpositionの確認が出来ます。


<指定した照射点をスキップする方法>

スキップしたいpositionの値をSkip following points in vector centeringに設定します。


<スケジュール確認と測定開始>

【Show List】をクリックするとスケジュールが表示されます。黄色で表示されているフレームは、照射位置の変更点を表しています。黄色で表示されるフレームを確認して下さい。

以上で設定は終了です。
BSS上で【Start】をクリックし、測定を開始して下さい。


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